
Nikon Epiphot-TME
Permite observar mediante luz reflejada las superficies preparadas de muestras metalográficas. Se emplea para estudiar la morfología y distribución de constituyentes microestructurales, inclusiones, poros y grietas, así como los cambios asociados a tratamientos térmicos y procesos de fabricación.
Su configuración invertida permite apoyar la superficie de observación sobre la platina, facilitando el estudio de muestras con distintas geometrías.


